Det dreier seg om korngrenser og mikroskopiske feil i krystallgitteret, såkalte dislokasjoner. Dette har han sammenlignet med faktiske målinger av de elektriske egenskapene.
Arbeidet kan få store positive konsekvenser for forurensnings- og utviklingsspørsmål hvis solceller kan utvikles til å bli en viktig del av energiforsyningen og erstatte fossile brensler og kjernekraft.
Han har funnet at korngrenser kan ha stor betydning, men at det er stor forskjell på forskjellige korngrenser.
Dislokasjoner er omtrent like viktige som korngrenser. Metoden er spesielt godt egnet for å studere materialet tidlig i produksjonsprosessen, det vil si før man har laget en solcelle, og materialet bare er en silisiumskive, men metoden kan også brukes for å studere effekten av forskjellige produksjonstrinn.
Bakgrunnen for arbeidet har vært den norske industribedriften ScanWafers behov for å utvikle en metode for å karakterisere sitt produkt; bedriften lager silisiumskiver til solceller.
Avhandlingen har tittelen «Characterisation of multicrystalline silicon solar cells - Development of characterisation method for the combined effect of dislocations and grain boundaries on the minority carrier lifetime / Karakterisering av multikrystallinske silisiumsolceller - Utvikling av karakteriseringsmetode for kombinert effekt av dislokasjoner og korngrenser på minoritetsladningsbærerlevetiden».
Arbeidet er utført ved Institutt for materialteknologi, NTNU, med professor Otto Lohne som veileder. Det er finansiert av Næringslivets Idéfond for NTNU.
